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產(chǎn)品分類products
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2015
7-6
在鍍膜過程中需要對(duì)一些重要參數(shù)進(jìn)行監(jiān)控，如膜層厚度、成分、表面光潔度、光透射率、反射系數(shù)、偏振特性等，都可以利用光譜學(xué)和雙光束干涉的方法進(jìn)行測(cè)量。光纖的使用為監(jiān)控過程提供了靈活的工具，可以使光方便地進(jìn)入或?qū)С鲞h(yuǎn)方的真空超...
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2015
7-3
薄膜測(cè)量系統(tǒng)是專門針對(duì)半導(dǎo)體、材料、生物醫(yī)學(xué)薄膜的實(shí)驗(yàn)室分析及在線監(jiān)測(cè)開發(fā)的，用于測(cè)量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)基于白光反射及干涉的原理來確定光學(xué)薄膜的厚度?？梢酝ㄟ^對(duì)白光干涉圖樣進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算來計(jì)算出薄膜...
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2015
7-3
光是植物生理、生態(tài)和農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中的一個(gè)重要環(huán)境因素，對(duì)植物的生長(zhǎng)發(fā)育起著重要作用。而在植物的光合作用中，只有能被植物吸收和利用的光才是與光合或干物質(zhì)積累有關(guān)。測(cè)量這部分光，并且以能量單位度量，作為光合效率或干物質(zhì)生產(chǎn)效率的...
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2015
6-24
地物光譜測(cè)量是依據(jù)地球表面物體對(duì)可見光和近紅外的反射率測(cè)量。地物光譜測(cè)量可以直接地或者輔助其他方法對(duì)物體做定性或定量分析。典型的地物光譜測(cè)量任務(wù)典型的任務(wù)：獲取某一地區(qū)的作物的分布圖。終制成的地圖中標(biāo)出作物的類別，例如：...
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2015
6-24
太陽(yáng)光譜輻照測(cè)量應(yīng)用包括科學(xué)氣象、氣候觀測(cè)、材料測(cè)試研究，太陽(yáng)能電池板效率和太陽(yáng)能可再生能源的評(píng)價(jià)等。在大氣層外，太陽(yáng)光譜可以看作為全波段的電磁波譜，但是在地表，由于大氣環(huán)境的影響，太陽(yáng)光譜會(huì)存在很多特征，也正是基于此，...
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2015
6-15
太陽(yáng)模擬器作為光源，在某種意義上說，可以等同于太陽(yáng)光源，可以模擬太陽(yáng)光照射。太陽(yáng)模擬器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池特性測(cè)試，光電材料特性測(cè)試，生物化學(xué)相關(guān)測(cè)試，光學(xué)催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測(cè)，環(huán)境研究等。隨著太陽(yáng)能光伏產(chǎn)...
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2015
6-15
薄膜材料因其在多個(gè)方面的性能，使得應(yīng)用十分廣泛，薄膜的制備有多種方法，磁控濺射法是當(dāng)今制備薄膜比較常用的一種方法。而用磁控濺射法制備出高質(zhì)量薄膜的關(guān)鍵是薄膜生長(zhǎng)過程中的工藝參數(shù)選擇與穩(wěn)定性控制。為此在薄膜生長(zhǎng)中的工藝參數(shù)...
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2015
6-3
光譜學(xué)測(cè)量的基礎(chǔ)是測(cè)量光輻射與波長(zhǎng)的對(duì)應(yīng)關(guān)系。一般來說，光譜學(xué)測(cè)量的直接結(jié)果是由很多個(gè)離散的點(diǎn)構(gòu)成曲線，每個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)（X軸）是波長(zhǎng)，縱坐標(biāo)（Y軸）是在這個(gè)波長(zhǎng)處的強(qiáng)度。因此，一個(gè)光譜儀的性能，可以粗略地分為下面幾個(gè)大類...
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2015
6-3
◆CCD電荷耦合器件（ChargerCoupledDevice，縮寫為CCD），硅基光敏元件的響應(yīng)范圍在短波近紅外區(qū)域?！鬚DA二極管陣列（PhotodiodeArray，縮寫為PDA）.光電二極管陣列是由多個(gè)二極管單元...
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2015
5-11
AvaSpec-USB1.1平臺(tái)的光纖光譜儀可以配置成單通道、雙通道、三通道、四通道或多通道（多可配置成8個(gè)不同的通道），由儀器主扳上的微處理器控制，使得不同通道間可以實(shí)現(xiàn)同步采樣。同步數(shù)據(jù)采樣可以使光譜儀快速讀出數(shù)據(jù)，...