服務熱線
010-84574045,84574046,84574057
手持式光譜儀在實際工作中被測量的樣品,往往其成份是由多種元素組成,除待測元素以外的元素統(tǒng)稱為基體。由于被測量的樣品中,其基體成份是變化的(這個變化一是指元素的變化,二是指含量的變化),手持式光譜儀直接影響待測元素特征X射線強度的測量。換句話說,待測元素含量相同,由于其基體成份不同,測量到的待測元素特征X射線強度是不同的,這就是基體效應?;w效應是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一?;w效應是個無法避免的客觀事實,其物理實質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化,除待測元素外,基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的射線和待測元素特征X射線產(chǎn)生光電效應的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多,也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。